Статистические характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку, при флуктуациях структуры

В работе исследуется как флуктуации структуры решетки, а именно ширины проводящей минизоны, влияют на ток, протекающий через полупроводниковую сверхрешетку. Для решения этой задачи предложена модель численного счета, позволяющая рассчитывать ток при случайных изменениях ширины минизоны в слоях сверхрешетки, как в случае с наклонным магнитным полем, так и без него. Для того чтобы оценить изменение тока было введено две интегральные характеристики: одна для формы вольт-амперной характеристики, вторая для амплитуды высокочастотных колебаний тока. Ранжированные по возрастанию интегральные характеристики позволяют примерно аппроксимировать изменчивость характеристик тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку, при различных величинах флуктуаций структуры решетки.