Характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку, при различной локализации дефекта решетки

В работе рассмотрено, как при изменении локализации колебаний ширины проводящей минизоны изменяются амплитуда и частота колебаний тока, а также форма колебаний тока. Полупроводниковые сверхрешетки в режиме генерации флуктуаций тока демонстрируют частоты до нескольких десятков гигагерц, что делает их перспективными передатчиками в инфокоммуникационных системах передачи данных. В данной работе показано, что локализация флуктуации флуктуации ширины проводящей минизоны сильно влияет на характеристики тока, при этом влияние локализации флуктуации в случае наличия наклонного магнитного поля и без него существенно различается. Показано, что изменение ширины минизоны в последнем слое структуры положительно влияет на колебательные характеристики тока, протекающего через сверхрешетку, в отсутствии магнитного поля и отрицательно в присутствии наклонного магнитного поля.