Аннотация
Для получения информации о структуре многих материалов используются методы рентгеновской дифракции, в частности анализ энергетических и азимутальных зависимостей брэгговских рефлексов. При небольшой интенсивности брэгговских рефлексов форма спектров часто оказывается искажена из-за трехволновых отражений, что затрудняет интерпретацию результатов. Этого можно избежать, если предварительно проанализировать условия возникновения трехволновых отражений. Настоящая работа посвящена программе Jmulti, которая рассчитывает азимутально-энергетические карты трехволновых отражений и позволяет подбирать оптимальные условия для измерения азимутальных и энергетических зависимостей брэгговских рефлексов.
Поступила: 28 сентября 2020
Статья подписана в печать: 31 января 2021
PACS:
78.70.Ck X-ray scattering
41.60.Ap Synchrotron radiation
41.60.Ap Synchrotron radiation
English citation: Jmulti — three-wave X-ray diffraction simulation software
K. A. Kozlovskaya, A. M. Ustyugov, S. V. Ivanov, E. N. Ovchinnikova, A. G. Kulikov, A. -. Rogalev
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
К. А. Козловская$^1$, А. М. Устюгов$^1$, С. В. Иванов, Е. Н. Овчинникова$^1$, А. Г. Куликов$^2$, А. -. Рогалев$^3$
$^1$Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова / Faculty of Physics M.V.Lomonosov Moscow State University\
$^2$Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ <<Кристаллография и фотоника>> РАН\
$^3$Европейский источник синхротронного излучения
$^1$Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова / Faculty of Physics M.V.Lomonosov Moscow State University\
$^2$Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ <<Кристаллография и фотоника>> РАН\
$^3$Европейский источник синхротронного излучения