Ионно-пучковая обработка поверхности ПДМС для улучшения клеточной адгезии

Объектом исследования являлись образцы полидиметилсилоксана Dow Corning Sylgard 184 (далее ПДМС) и клетки клеточной линии HEK-293. В работе проводились эксперименты по модифицированию поверхности ПДМС пучками атомарных и кластерных ионов аргона с энергиями 10~кэВ. Ионные пучки направлялись под углами $60^\circ$ и $90^\circ$ к поверхности образцов, флюенс облучения составляла от $10^{15}$ до $10^{16}$~ион/см$^2$. Исследование модифицированной поверхности проводилось методами атомно-силовой и оптической микроскопии. Исследование клеточной адгезии проводилось методами сканирующей ион-проводящей и оптической микроскопии. В результате исследования были получены результаты об улучшении условий для клеточной адгезии на поверхности ПДМС при предварительной обработке этой поверхности пучком атомарных ионов аргона, также получены данные об образующемся при ионном облучении микрорельефе на поверхности образцов.