In-situ измерение профиля сфокусированного пучка синхротронного излучения флуоресцентным детектором с динамическим диапазоном 1E6

Использование флуоресцентных детекторов считается крайне перспективным для регистрации сверхинтенсивных рентгеновских пучков. Это связано с рядом преимуществ таких детекторов по сравнению с традиционными детекторами (такими как ПЗС-матрицы, диоды, рентгеновские пленки и др.). В частности, данный тип детекторов имеет субмикронное пространственное разрешение, одновременно с большим полем зрения (до нескольких см2). Также известно, что динамический диапазон флуоресцентного детектора кристалла фторида лития (LiF) для мягкого рентгеновского излучения значительно превышает величину динамического диапазона стандартных детекторов 1E4. В рамках данной работы продемонстрирована возможность in-situ измерения профиля сфокусированного пучка со сверхшироким динамическим диапазоном 1E6 при помощи детектора LiF и конфокального лазерного сканирующего микроскопа.