Физический факультет
Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
МЕНЮ
Статья

Ближнеполевой СВЧ микроскоп для измерения проводимости тонких металлических пленок

В.И. Фролов$^1$, В.А. Вдовин$^2$, В.Г. Андреев$^3$

Учен. зап. физ. фак-та Моск. ун-та. 2016. № 5. 165412

  • Статья
Аннотация

Описан экспериментальный прототип ближнеполевого микроскопа на базе коаксиального СВЧ резонатора и векторного анализатора цепей R&S ZVA 24. Приведены результаты тестовых измерений сдвига резонансной частоты и добротности резонансной кривой с использованием объемных проводников, изготовленных из металлов с различной проводимостью. Показа-но качественно, что резонансная частота и добротность уменьшаются при приближении зонда к поверхности проводника. Значение добротности минимально при использовании проводника с наименьшей проводимостью.

PACS:
73.61.-r Electrical properties of specific thin films
English citation: Nearfield microwave microscope for measuring the conductivity of thin metallic films
V.I. Frolov, V.A. Vdovin, V.G. Andreev
Авторы
В.И. Фролов$^1$, В.А. Вдовин$^2$, В.Г. Андреев$^3$
$^1$Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, физический факультет, кафедра фотоники и физики микроволн Россия,119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$Институт Радиотехники и Электроники имени В.А.Котельникова РАН Россия, 125009, Москва, ул. Моховая, д. 11, стр. 7
$^3$Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра акустики Россия,119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Выпуск 5, 2016

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.