Аннотация
Проведен анализ возможности идентификации 1D и 2D структур квазикристаллического типа (в том числе их аппроксимантов) на основе регистрации локальных паттернов в полях зондирующих пучков, а также дана оценка присутствующих в них структурных дефектов.
PACS:
42.25.Fx Diffraction and scattering
42.25.Hz Interference
42.25.Hz Interference
English citation: Optical properties of 1D and 2D quasicrystalline structures approximants
Yu.V. Ryzhikova, P.V. Korolenko, P.A. Logachev
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Ю.В. Рыжикова, П. В. Короленко, П. А. Логачев
Московский государственный университет имени М. В.Ломоносова, физический факультет, кафедра оптики и спектроскопии Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М. В.Ломоносова, физический факультет, кафедра оптики и спектроскопии Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2