Зарегистрированы контуры линии HeI 492,2 нм, образованные штарковскими σ-компонентами в области катодного падения потенциала на боковой поверхности катода. Разработан спектрополяризационный метод определения напряженности электрического поля с помощью контура линии He I 492,2 нм, образованного штарковскими σ-компонентами. Получено пространственное распределение напряженности электрического поля в слое катодного падения потенциала на боковой поверхности катода, которое имеет линейный характер по мере удаления от разрядного промежутка.
52.80.Hc Glow; corona
$^1$Институт физики им. Б.И. Степанова НАН Беларуси
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.