Метод эквивалентных замещений при точном аналитическом решении задач синтеза многослойных периодических структур со связанными волновыми толщинами и с заданными амплитудно-фазовыми характеристиками.

На основе методов эквивалентных замещений и связанных волновых толщин построен алгоритм численно-аналитического расчёта значений толщин интерференционной просветляющей структуры («π структуры») для произвольного числа составляющих её слоёв. Полученный алгоритм позволяет синтезировать структуры, обеспечивающие заданный коэффициент отражения на всем непрерывном множестве значений от 0 до 1 для любых встречающихся на практике показателей преломления как материалов слоев структур, так и материалов сред, ограничивающих структуру. Корректность полученного алгоритма и работоспособность метода подтверждена численным экспериментом.