Прыжковый перенос дырок в керамических образцах CuCrO2, легированного магнием

В широком диапазоне температур исследована электропроводность керамических образцов легированного магнием хромита меди(I) CuCr1-xMgxO2 (x=0 ; 0.002 ; 0.008 ; 0.015 ; 0.030 ; 0.060), синтезированных твердофазным методом c использованием химической гомогенизации. Образцы охарактеризованы порошковой рентгеновской дифракцией и спектроскопией комбинационного рассеяния света. Дырочный тип проводимости синтезированных образцов подтверждён знаком коэффициента Зеебека. Анализ температурных зависимостей электропроводности показал, что наблюдаемая электропроводность является прыжковой для содержания магния от 0 до 6 ат. %. По температурным зависимостям электропроводности были получены оценки радиуса локализации и плотности состояний на уровне Ферми.