Аннотация
Рассмотрена возможность идентификации систем нанокластерных образований со звездной геометрией на основе оценки скейлинговых параметров как в картинах дифракции зондирующего излучения, так и в самих анализируемых объектах.
PACS:
42.25.Fx Diffraction and scattering
42.30.Kq Fourier optics
61.43.Hv Fractals; macroscopic aggregates
61.46.-w Structure of nanoscale materials
42.30.Kq Fourier optics
61.43.Hv Fractals; macroscopic aggregates
61.46.-w Structure of nanoscale materials
English citation: Star models of nanocluster formations
V.V. Gridchina, P.V. Korolenko, Yu.V. Ryzhikova
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
В.В. Гридчина, П.В. Короленко, Ю.В. Рыжикова
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра оптики, спектроскопии и физики наносистем. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2.
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра оптики, спектроскопии и физики наносистем. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2.