Данная работа посвящена описанию физических и математических аспектов работы алгоритма определения оптического профиля тонких градиентных пленок методом поверхностного плазмонного резонанса (ППР). Алгоритм основан на минимизации функции расхождения, которая характеризует отклонение между экспериментальными данными и модельными данными искомого градиентного слоя, аппроксимированного кубическим эрмитовым интерполянтом, известного как PCHIP. Оптимальные координаты узлов сплайна, аппроксимирующего градиентный оптический слой, определяются с помощью оптимизации методом Пауэла, реализованного на языке Python. Для повышения стабильности, точности и скорости поиска алгоритм разбит на три этапа. Каждый этап разработан для сужения области поиска и выбора начальных параметров для следующего этапа, которые максимально приближены к искомому градиентному слою. Алгоритм использует данные сканирования методом ППР по углу, длине волны и внешней среде.
$^1$Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН (НТЦ УП РАН)