© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Р.М. Архипов, М. Раджюнас, А.Г. Владимиров
Weierstrass Institute for Applied Analysis and Stochastics, Leibniz Institute in For-schungsverbund Berlin e.V, Berlin, Germany; Санкт-Петербургский государственный университет, физический факультет; Centre for Advanced Photonics and Process Analysis, Cork Institute of Technology, Cork, Ireland
Weierstrass Institute for Applied Analysis and Stochastics, Leibniz Institute in For-schungsverbund Berlin e.V, Berlin, Germany; Санкт-Петербургский государственный университет, физический факультет; Centre for Advanced Photonics and Process Analysis, Cork Institute of Technology, Cork, Ireland